| 专利名称 | 一种用于LED器件寿命检测的数值拟合优化方法 | ||
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| 申请号/专利号 | 专利权人(第一权利人) | 延边大学 | |
| 申请日 | 2025-03-10 | 授权日 | 2025-06-27 |
| 专利类别 | 战略新兴产业分类 | 新一代信息技术 | |
| 技术主题 | 使用电辐射探测器进行测光|检测技术|环境保护|节能控制技术|环保设备|活性筛选|污染治理|污染物检测|发明专利|环境监测 | ||
| 应用领域 | |||
| 意向价格 | 具体面议 | ||
| 专利概述 | 本发明涉及半导体器件测试领域,尤其涉及一种用于LED器件寿命检测的数值拟合优化方法,该方法包括:采集LED器件的光通量时序数据;对光通量时序数据进行光通量变化分析,得到窗口调节因子并通过窗口调节因子进行动态窗口划分;通过对任二动态窗口进行距离优化因子分析,得到距离优化因子,并通过距离优化因子对动态窗口之间的距离度量进行优化,得到优化距离;通过优化距离进行近邻匹配,得到近邻匹配结果;通过近邻匹配结果与光通量时序数据进行弧跨越数序列评估,得到弧跨越数序列;根据弧跨越数序列进行自适应分段结果并进行分段拟合;根据分段拟合结果进行寿命检测分析,得到LED器件的寿命检测结果,从而提高LED器件寿命检测精度。 | ||
| 图片资料 |
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| 合作方式 | 具体面议 | ||
| 联系人 | 孟爽 | 联系电话 | 18088660757 |